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工程师在半导体错误分析中发现的有趣图片

来源:EEWORLD
时间:2014-09-23

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IEEE发布了工程师在半导体错误分析中发现的有趣图片。

“鸟”,来自新加坡GlobalFoundries

这张图片获得了IEEE集成电路物理和错误分析国际论坛IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA)错误分析艺术的一等奖


氮化镓样品中“盛开的花朵”,来自新加坡WinTech Nano-Technology Services


在金属剥离问题中发现“情侣鸟”,来自马来西亚ON Semiconductor


测试晶体管早期失败时发现“拿着柠檬的手”,来自马来西亚英飞凌科技


“海马”,来自菲律宾ADI公司


金属层下不均匀的层显示“流泪的眼睛”,来自马来西亚英飞凌科技


一个硅模具断裂面的场景“美国大峡谷”,来自菲律宾ADI公司


样品被被蚀刻后出现的“蜗牛”,来自新加坡GlobalFoundries


切割样品时出现“一个和尚的雕塑”,来自马来西亚英飞凌科技


结晶图“白色圣诞节”,只有20微米长的雪花,来自新加坡Silicon公司,

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